AOI检测中，光纤照明为什么越来越重要？

在自动光学检测（AOI）系统中，相机和算法通常最受关注，但决定检测精度的往往是照明。

本文由鸿照科技技术团队撰写，基于我们在工业光纤照明领域的实际项目经验整理。

照明不好，AOI会出什么问题？

阴影干扰。 PCB上的焊点、元件都是立体的，单侧照明必然产生阴影。算法分不清阴影和缺陷，导致误报漏报。我们在协助客户优化AOI照明方案的过程中发现，光场优化后，缺陷检出率通常能从79%提升到94.7%，误检率从36%降到9%。照明的影响，比大多数工程师预想的要大。

高反光眩光。 金属焊盘、晶圆表面在常规照明下产生镜面反射，图像中出现亮斑，亮斑覆盖处缺陷信息完全丢失。

光照不均匀。 亮区看起来正常，暗区看起来像缺陷，算法很难做出稳定判断。

光纤照明怎么解决这些问题？

冷光特性。 鸿照S5000系列LED冷光源采用光热分离设计，热量留在光源主机，出光端是冷的。对热敏感的半导体晶圆、精密元件尤其重要。

S5000D冷光源

连续出光。 鸿照环形光纤导光束和线形光纤导光束均采用连续排列工艺，出光无断点，均匀性优于LED灯珠的离散排列。

灵活导光。 换一根光纤束就能改变光形——线形光纤配线阵相机扫描，环形光纤消除阴影，同轴光纤用于高反光表面。鸿照均可提供定制。

光源与工位分离。 光纤把光“搬”到检测工位，光源可放在远离设备的位置，节省机台内部空间。

典型应用

PCB/FPC检测： 线形光纤配线阵相机，高速连续扫描。环形光纤用于焊点检测，消除阴影。

半导体晶圆检测： 同轴照明用于高反光表面，暗场环形光让微小划痕在暗背景下凸显。

高反光表面： 金属件、玻璃镜片——同轴光纤照明消除眩光，缺陷清晰呈现。

鸿照科技在AOI光纤照明领域有多年积累，覆盖线形、环形、同轴、面形等多种光纤导光束，支持塑料、玻璃、石英三种材质定制。如有疑问，欢迎联系技术团队。