AOI检测中,光纤照明为什么越来越重要?
Sep 21, 2026
在自动光学检测(AOI)系统中,相机和算法通常最受关注,但决定检测精度的往往是照明。
本文由鸿照科技技术团队撰写,基于我们在工业光纤照明领域的实际项目经验整理。
照明不好,AOI会出什么问题?
阴影干扰。 PCB上的焊点、元件都是立体的,单侧照明必然产生阴影。算法分不清阴影和缺陷,导致误报漏报。我们在协助客户优化AOI照明方案的过程中发现,光场优化后,缺陷检出率通常能从79%提升到94.7%,误检率从36%降到9%。照明的影响,比大多数工程师预想的要大。
高反光眩光。 金属焊盘、晶圆表面在常规照明下产生镜面反射,图像中出现亮斑,亮斑覆盖处缺陷信息完全丢失。
光照不均匀。 亮区看起来正常,暗区看起来像缺陷,算法很难做出稳定判断。
光纤照明怎么解决这些问题?
冷光特性。 鸿照S5000系列LED冷光源采用光热分离设计,热量留在光源主机,出光端是冷的。对热敏感的半导体晶圆、精密元件尤其重要。
S5000D冷光源
连续出光。 鸿照环形光纤导光束和线形光纤导光束均采用连续排列工艺,出光无断点,均匀性优于LED灯珠的离散排列。
灵活导光。 换一根光纤束就能改变光形——线形光纤配线阵相机扫描,环形光纤消除阴影,同轴光纤用于高反光表面。鸿照均可提供定制。
光源与工位分离。 光纤把光“搬”到检测工位,光源可放在远离设备的位置,节省机台内部空间。
典型应用
PCB/FPC检测: 线形光纤配线阵相机,高速连续扫描。环形光纤用于焊点检测,消除阴影。
半导体晶圆检测: 同轴照明用于高反光表面,暗场环形光让微小划痕在暗背景下凸显。
高反光表面: 金属件、玻璃镜片——同轴光纤照明消除眩光,缺陷清晰呈现。
鸿照科技在AOI光纤照明领域有多年积累,覆盖线形、环形、同轴、面形等多种光纤导光束,支持塑料、玻璃、石英三种材质定制。如有疑问,欢迎联系技术团队。
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